更新时间:2024-11-02
10000V10KV高压绝缘电阻测试仪、兆欧表湿度增加,表面泄漏增大,体电导电流也会增加。温度升高,载流子的运动速率加快,介质材料的吸收电流和电导电流会相应增加,据有关资料报道,一般介质在70C时的电阻值仅有20C时的10%。
SHJX-III-10000V绝缘电阻测试仪于试验室或现场做绝缘测试试验。内含高精度微电流测量系统、数字升压系统。只需要用一条高压线和一条信号线连接试品即可测量。测量自动进行,结果由大屏幕液晶显示,并将结果进行存储。
一、主要特点
二、主要技术性能
测试电压 | 测量范围与精度 | 测量范围与精度 | ||
250V | 0.1M-1G | 10% | 1-10G | 20% |
500V | 0.1M-20G | 10% | 20-200G | 20% |
1000V | 0.1M-40G | 10% | 40-400G | 20% |
2500V | 0.1-100G | 10% | 100-1000G | 20% |
5000V | 0.1-200G | 10% | 200G-2000G | 20% |
10000v | 0.1-200G | 10% | 200G-2000G | 20% |
显示方式:数字 温度测量:-45℃~125℃
10000V10KV高压绝缘电阻测试仪、兆欧表试验电压范围:0.25KV, 0.5KV,1KV,2.5KV,5KV,10KV
短路电流:≧5mA 测量时间:1分钟~10分钟(与测量方式有关)
充电电源:180~270VAC ,50Hz/60Hz±1% (市电或发电机供电)工作环境:温度-10~40℃,相对湿度20~80%。
三、操作部件功能
1.L接线端 :“L”为高压输出端,称为线路端,由高压电缆引至被测线端,例如接至电机绕组、电缆线芯。
2.G接线端 :“G”称为屏蔽端,用于三电极法测量绝缘材料或电缆的体积电阻,它接至三电极的保护环端。
3.E接线端 :“E”称为地端,接至被测物的地、零端。例如电机外壳金属、变压器铁芯、电缆屏蔽层。
4、注意事项及其它
请注意安全,L为高压端!E为地端,必需接大地!
四、仪器的配套性
1 | 主机 | 一台 |
2 | 红色线 | 一根 |
3 | 黑色线 | 一根 |
4 | 充电线 | 一根 |
5 | 产品说明书 | 一份 |
6 | 出厂检测报告 | 一份 |
7 | 合格证 | 一张 |
影响电阻或电阻率测试的主要因素
a.环境温湿度
一般材料的电阻值随环境温湿度的升高而减小。相对而言,表面电阻(率)对环境湿度比较敏感,而体电阻(率)则对温度较为敏感。湿度增加,表面泄漏增大,体电导电流也会增加。温度升高,载流子的运动速率加快,介质材料的吸收电流和电导电流会相应增加,据有关资料报道,一般介质在70C时的电阻值仅有20C时的10%。因此,测量材料的电阻时,必须指明试样与环境达到平衡的温湿度。
b.测试电压(电场强度)
介质材料的电阻(率)值一般不能在很宽的电压范围内保持不变,即欧姆定律对此并不适用。常温条件下,在较低的电压范围内,电导电流随外加电压的增加而线性增加,材料的电阻值保持不变。超过一定电压后,由于离子化运动加剧,电导电流的增加远比测试电压增加的快,材料呈现的电阻值迅速降低。由此可见,外加测试电压越高,材料的电阻值越低,以致在不同电压下测试得到的材料电阻值可能有较大的差别。
10000V10KV高压绝缘电阻测试仪、兆欧表值得注意的是,导致材料电阻值变化的决定因素是测试时的电场强度,而不是测试电压。对相同的测试电压,若测试电极之间的距离不同,对材料电阻率的测试结果也将不同,正负电极之间的距离越小,测试值也越小。
c.测试时间
用一定的直流电压对被测材料加压时,被测材料上的电流不是瞬时达到稳定值的,而是有一衰减过程。在加压的同时,流过较大的充电电流,接着是比较长时间缓慢减小的吸收电流,后达到比较平稳的电导电流。被测电阻值越高,达到平衡的时间则越长。因此,测量时为了正确读取被测电阻值,应在稳定后读取数值或取加压1分钟后的读数值。
另外,高绝缘材料的电阻值还与其带电的历史有关。为准确评价材料的静电性能,在对材料进行电阻(率)测试时,应首先对其进行消电处理,并静置一定的时间,静置时间可取5分钟,然后,再按测量程序测试。一般而言,对一种材料的测试,至少应随机抽取3~5个试样进行测试,以其平均值作为测试结果。
d.测试设备的泄漏
在测试中,线路中绝缘电阻不高的连线,往往会不适当地与被测试样、取样电阻等并联,对测量结果可能带来较大的影响。为此:
为减小测量误差,应采用保护技术,在漏电流大的线路上安装保护导体,以基本消除杂散电流对测试结果的影响;
高电压线由于表面电离,对地有一定泄漏,所以尽量采用高绝缘、大线径的高压导线作为高压输出线并尽量缩短连线,减少*,杜绝电晕放电;
采用聚乙烯、聚四氟乙烯等绝缘材料制作测试台和支撑体,以避免由于该类原因导致测试值偏低。
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